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Digital Micrograph实例教程(1):如何测量高分辨电镜图片中的晶面间距?

研之成理 • 6 月前 • 209 次点击  

前言

Digital Micrograph (DM)是美国Gatan公司推出的一款用于透射电镜数据采集和分析的软件,相信做过高分辨透射电镜的朋友都非常熟悉。DM软件的菜单栏和基本使用方法一般大家都没啥问题,这里就不多废话了,咱们直奔主题,分享一些有用的东西。今天的话题是:如何利用DM来测量高分辨电镜图片中的晶面间距?

备注:作为一个尊重知识版权的公众号,研之成理的一贯原则是只提供使用方法,不分享软件,需要软件资源的朋友请自行百度或者在小木虫上搜索。

实例解析

软件:Gatan Digital Micrograph

文件格式:dm3格式(TIFF和JPEG格式的文件不适用于本教程)


Step 1. 打开软件,导入数据(.dm3格式文件)。

图1. 


图2. CeO2纳米棒的HRTEM图片


备注:.dm3是采用Gatan CCD拍摄的高分辨透射电镜图片的原始格式,也是富含有效信息最多的文件格式,所以大家在测试的时候务必让测试老师将dm3源文件提供给你,而不是转码之后的TIFF或者JPEG格式。


Step 2.  点击工具栏中的Profile工具,在晶格条纹清晰的区域画一条垂直于晶格条纹的线(图3),与此同时,会出现一个Profile窗口

图3


Step 3. 双击所画的直线,设置线条宽度,然后点击OK(图4),得到一个矩形框(图5)

图4


图5


Step 4. 通过工具栏中的选择工具,选中所画的线对其进行调节,使得矩形上下两边平行于晶格条纹(图6)

图6


此时,可以看到Profile of CeO2-0001窗口如图7所示(备注:各个柱形图高度越接近,测出的条纹间距值越可靠)

图7


Step 5. 在Profile窗口中采用鼠标左键拽出一个虚线框(确保框线位于柱子正中间)即可显示出距离(图8),通常测量10个周期的距离求取平均值得到晶格条纹的晶面间距。图8中的晶格间距为3.118 ÷ 10 = 0.3118 nm,对应CeO2的(111)晶面。

图8


备注:样品各晶面的标准晶面间距可以通过Jade软件分析XRD数据的标准谱图来得到(相关教程:XRD从原始数据到图


Step 6. 晶格条纹的标注,这一步可以在平面设计软件Photoshop,CorelDraw或者PPT中完成,标注方式如图9所示。

图9


备注:这里仅提供小编经常使用的一种方法,并不是唯一方法!希望对大家有所帮助!

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